Nanoscale observation of delayering in alkane films

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dc.contributor.authorBai, M.
dc.contributor.authorVogt, Nikolaus
dc.date.accessioned2017-04-10T20:44:25Z
dc.date.available2017-04-10T20:44:25Z
dc.date.issued2007
dc.identifier.doi10.1209/0295-5075/79/26003
dc.identifier.issn0295-5075
dc.identifier.urihttps://repositorio.uc.cl/handle/11534/17980
dc.identifier.urihttps://doi.org/10.1209/0295-5075/79/26003
dc.language.isoen
dc.relation.isformatofEpl. Vol. 79, no. 2 (2007), p. [26003]-26003
dc.revistaEples_ES
dc.rightsacceso restringido
dc.subject.ddc510
dc.subject.deweyMatemática física y químicaes_ES
dc.subject.otherNanoescala cienciaes_ES
dc.subject.otherAlcanoses_ES
dc.subject.otherDispersión de rayos Xes_ES
dc.subject.otherMicroscopía de fuerza atómicaes_ES
dc.titleNanoscale observation of delayering in alkane filmses_ES
dc.typeartículo
sipa.codpersvinculados100470
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